يعد المجهر الإلكتروني لانتقال الجسيمات النانوية (TEM) تقنية مجهرية مهمة تستخدم على نطاق واسع لمراقبة وتوصيف بنية وتشكل الجزيئات والمواد النانوية.
يستخدم TEM حزمًا إلكترونية عالية الطاقة لمراقبة التفاصيل المجهرية للعينة من خلال شرائح رفيعة. في TEM، يتم تركيز شعاع الإلكترون من خلال نظام العدسات ثم يمر عبر العينة، ويتفاعل مع الذرات أو الجزيئات الموجودة في العينة. ومن خلال جمع المعلومات عن شعاع الإلكترون المرسل، يمكن الحصول على صور عالية الدقة وأنماط الحيود للعينة، وبالتالي الكشف عن بنيتها الداخلية وتكوينها.
فيما يلي الخطوات العامة لاستخدام TEM لاختبار العينات:
1. تحضير العينة: أولاً، من الضروري تحضير العينة المراد اختبارها إلى شرائح عينة رفيعة بما فيه الكفاية. تشمل طرق التحضير الشائعة التقطيع الميكانيكي، والطحن الأيوني، والترسيب بالطرد المركزي، وقطع الشعاع الأيوني المركز (FIB).
2. تحميل العينة: ضع شرائح العينة المعدة على حامل العينة TEM وتأكد من تثبيتها واستقرارها.
3. إعدادات الأداة: قم بتعيين المعلمات مثل جهد التسارع والتركيز ووظائف المحاذاة المطلوبة لـ TEM. عادةً ما يكون من الضروري اختيار إعدادات وأوضاع العدسة المناسبة للحصول على معلومات الصورة المطلوبة.
4. المراقبة والتعديل: أدخل حامل العينة في أداة TEM ولاحظ العينة باستخدام العدسة أو المجهر. تحت التكبير المناسب، لاحظ ما إذا كان شكل العينة وهيكلها يفي بالمتطلبات، وقم بضبطها وتحسينها حسب الحاجة.
5. التقاط الصور: حدد إعدادات العدسة المناسبة ووقت التعرض لالتقاط صور عالية الدقة للعينة من خلال نظام TEM. يمكن جمع الصور من مناطق وزوايا مختلفة للحصول على معلومات أكثر شمولاً.
6. تحليل البيانات: تحليل وتفسير صور TEM، بما في ذلك قياس حجم الجسيمات، وتشكل السطح، والبنية البلورية، وما إلى ذلك. ويمكن أيضًا إجراء تحليل طيف الطاقة المقابل وتحليل نمط الحيود للحصول على معلومات حول التركيب العنصري والبنية البلورية.
TEM هي تقنية مجهرية عالية الدقة تُستخدم عادةً لدراسة الجسيمات النانوية والمواد النانوية والبنى النانوية والمزيد. ويمكنه توفير مراقبة وتحليل تفصيلي على المستوى النانوي، حيث يلعب دورًا مهمًا في فهم الخصائص الهيكلية للمواد، وتشكل وتكوين الجسيمات النانوية، ودراسة الظواهر النانوية.
