أدوات الكشف شائعة الاستخدام لتحليل تكوينالمواد النانويةيشمل:
1. ICP (البلازما المقترنة حثيًا): ICP هي تقنية تستخدم على نطاق واسع في مجالات الكيمياء التحليلية وعلوم المواد. ويمكن استخدامه لتحديد محتوى وتكوين العناصر في المواد النانوية. عن طريق تحويل العينة إلى أيونات غازية واستخدام طيف البلازما المتولد لتحديد تركيز العناصر. يجمع ICP-MS (مطياف كتلة البلازما المقترن حثيًا) بين تقنيات ICP وقياس الطيف الكتلي لتحليل تركيزات منخفضة للغاية من العناصر في المواد النانوية.
2. XRF (التنظير الفلوري بالأشعة السينية): XRF هي تقنية مستخدمة على نطاق واسع لتحليل المواد والاختبارات غير المدمرة. ويحدد تكوين العناصر عن طريق تشعيع السطح أو الجزء الداخلي من العينة بالأشعة السينية وقياس الإشعاع الفلوري لخصائص العنصر في العينة. XRF مناسب لمجموعة من المواد النانوية، بما في ذلك العينات الصلبة والسائلة والمساحيق.
3. EDS (التحليل الطيفي للأشعة السينية المشتتة من الطاقة): EDS هي تقنية مجهرية إلكترونية تحدد تكوين العناصر في العينة عن طريق قياس الأشعة السينية الناتجة عن التفاعل بين شعاع الإلكترون والعينة في المادة. غالبًا ما يتم استخدام EDS جنبًا إلى جنب مع المجهر الإلكتروني الماسح (SEM) لتوفير تحليل التركيب السطحي للمواد النانوية.
